TELLUS Pro – Descripción
TELLUS PRO es el difractómetro de rayos X de sobremesa de nueva generación, diseñado con capacidades mejoradas y funcionalidad avanzada que permiten a los investigadores realizar una amplia gama de experimentos con una versatilidad sin precedentes.
Este instrumento de alta tecnología cumple con los exigentes requisitos de la ciencia moderna de materiales, la química y la física, ofreciendo tanto precisión como flexibilidad para la investigación científica y la fabricación de alta tecnología.
A diferencia del modelo de nivel inicial TELLUS BASIC, que es más adecuado para la educación y el análisis rutinario de polvos,
TELLUS PRO está diseñado para investigación académica y tareas industriales avanzadas. Admite no solo difracción estándar de polvos, sino también mediciones complejas como:
- Difracción de rayos X a incidencia rasante (GIXRD)
- Análisis de tensiones residuales y textura
- Reflectometría de rayos X (XRR)
- Caracterización de películas delgadas
El sistema está equipado con un goniómetro de alta precisión con brazos desacoplados, que permite tanto escaneos simétricos como asimétricos,
e incluye una plataforma de muestra de 2 ejes para un posicionamiento preciso. Combinado con óptica de haz cuasi-paralelo (espejos Goebel y colimadores de placa paralela),
TELLUS PRO ofrece flexibilidad y fiabilidad en aplicaciones exigentes, incluidas microelectrónica, recubrimientos y estructuras multicapa.
Gracias a su rango angular ampliado y a su plataforma de software personalizable, TELLUS PRO permite a los investigadores explorar las estructuras de los materiales con mayor profundidad y mayor confianza.
Ya sea utilizado en laboratorios académicos o en I+D industrial de alta tecnología, proporciona las herramientas necesarias para experimentos ricos en datos y reproducibles, sin la complejidad ni el tamaño de un difractómetro de suelo.
Comparación con otros modelos TELLUS
| Característica / Modelo | TELLUS BASIC | TELLUS PRO | TELLUS INDUSTRY | TELLUS HR |
|---|---|---|---|---|
| Público objetivo | Educación, investigación, laboratorios de control de calidad rutinario | Investigación, industria de alta tecnología | Cemento, minería, metalurgia, control de procesos | I+D avanzada, semiconductores, epitaxia |
| Radio del goniómetro | 150 mm | Variable, 150–210 mm | 150 mm con montaje industrial fijo | Alta precisión 240 mm |
| Rango de escaneo (2Ө) | –6° a +154° | –12° a +160° | –6° a +154° | –20° a +170° |
| Análisis de películas delgadas | Limitado | GIXRD, XRR, análisis de textura | No requerido | HRXRD, RSM, XRR, análisis de películas epitaxiales |
| Tensiones residuales y textura | No disponible | Disponible | No requerido | Mapeo de tensiones residuales y textura de alta resolución |
| Plataforma de muestra | Fija con rotación opcional | Plataforma de dos ejes Z-Phi | Carrusel de carga automatizado o bandeja por lotes | Plataforma de goniómetro motorizado de cinco ejes |
| Accesorios | Portamuestras básicos para polvos | Espejo Goebel, colimador de placa paralela, plataforma capilar | Muestreador automático integrado, chasis protegido contra polvo, interfaz compatible con LIMS | Óptica de alta resolución, acondicionadores de haz, entorno avanzado para muestras |
| Generador de rayos X | 40 kV / 15 mA (600 W) | 40 kV / 30 mA (1200 W) | 40 kV / 15–30 mA (hasta 1200 W) | Sistema de alta estabilidad de 3 kW (opcional) |
Paquete de software
- TELLUSCon
- Software especializado
- Bases de datos COD, PDF-2
Aplicaciones clave:
- Determinación de la estructura cristalina, incluidos los parámetros de red
- Análisis de fases en muestras multicomponente
- Análisis de textura
- Evaluación de tensiones residuales
- Reflectometría de rayos X (XRR)
- Difracción de rayos X a incidencia rasante (GIXRD)
- Mediciones XRD dependientes de la temperatura
Características clave
Goniómetro desacoplado
Goniómetro de alta precisión con brazos accionados de forma independiente que permite geometrías de escaneo tanto simétricas como asimétricas para una mayor flexibilidad de medición.
Plataforma de muestra de doble eje
Portamuestras motorizado con dos ejes de rotación que proporciona posicionamiento y alineación precisos, ideal para mediciones de películas delgadas y tensiones residuales.
Óptica de haz paralelo
Los espejos Goebel y los colimadores de placas paralelas permiten una adquisición de datos de alta calidad en incidencia rasante, reflectometría y análisis de textura.
Rango angular ampliado
Amplio rango de escaneo 2Ө que admite mediciones tanto de ángulo bajo como alto, garantizando una cobertura completa para investigaciones avanzadas de materiales.
Sin refrigeración externa
La gestión térmica eficiente elimina la necesidad de sistemas de refrigeración externos, simplificando la instalación y reduciendo los costos de mantenimiento.
Modos de medición avanzados
Compatible con técnicas especializadas como incidencia rasante (GIXRD), reflectometría (XRR), análisis de tensiones residuales y análisis de textura.
Vídeo
Datos técnicos
Detalles
| Generador de rayos X | 40 kV / 30 mA (1200 W) o 40 kV / 15 mA (600 W) |
| Ánodo | Cu (opcional: Cr, Co, Fe, Mo) |
| Sistema de refrigeración | Refrigeración interna por agua (circuito cerrado) |
| Goniómetro | Vertical Ө–Ө, desacoplado, radio 150–210 mm |
| Rango de escaneo (2Ө) | –12° a +160° |
| Rango de ángulo de la fuente | –6° a +125° |
| Rango de ángulo del detector | –6° a +145° |
| Paso mínimo (2Ө) | 0.0003° |
| Precisión de posicionamiento | ±0.01° (2Ө) |
| Velocidad de escaneo | 0.01–600°/min |
| FWHM mínimo alcanzable | ≤0.03° |
Periféricos
| Detector | Conteo de fotones Si: ADVACAM MiniPIX TPX3 (2D) o DECTRIS MYTHEN2 R (1D) |
| Interfaz | USB / Ethernet |
| Ordenador | PC con sistema operativo Windows |
Dimensiones
| Dimensiones totales | |
|---|---|
| Ancho | 700 mm |
| Profundidad | 700 mm |
| Altura | 860 mm |
| Peso (máximo) | 115 kg |
|---|
Detalles
| Generador de rayos X | 40 kV / 30 mA (1200 W) o 40 kV / 15 mA (600 W) |
| Ánodo | Cu (opcional: Cr, Co, Fe, Mo) |
| Sistema de refrigeración | Refrigeración interna por agua (circuito cerrado) |
| Goniómetro | Vertical Ө–Ө, desacoplado, radio 5.91–8.27 in |
| Rango de escaneo (2Ө) | –12° a +160° |
| Rango de ángulo de la fuente | –6° a +125° |
| Rango de ángulo del detector | –6° a +145° |
| Paso mínimo (2Ө) | 0.0003° |
| Precisión de posicionamiento | ±0.01° (2Ө) |
| Velocidad de escaneo | 0.01–600°/min |
| FWHM mínimo alcanzable | ≤0.03° |
Periféricos
| Detector | Conteo de fotones Si: ADVACAM MiniPIX TPX3 (2D) o DECTRIS MYTHEN2 R (1D) |
| Interfaz | USB / Ethernet |
| Ordenador | PC con sistema operativo Windows |
Dimensiones
| Dimensiones totales | |
|---|---|
| Ancho | 27.6 in |
| Profundidad | 27.6 in |
| Altura | 33.9 in |
| Peso (máximo) | 254 lb |
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