TELLUS HR – Descripción
TELLUS HR es un difractómetro de rayos X de alta resolución diseñado para investigaciones exigentes en cristalografía estructural, capas epitaxiales y películas delgadas avanzadas.
Con estabilidad de laboratorio, un sistema óptico configurable y un goniómetro de radio variable, ofrece una resolución angular excepcional para análisis preciso de fases, evaluación de tensiones y estudios de textura en ciencia de materiales de vanguardia y en I+D de semiconductores.
Mientras que TELLUS BASIC y PRO cubren respectivamente el análisis rutinario y la investigación avanzada, TELLUS HR está diseñado para tareas de alta resolución que requieren máxima precisión angular y sensibilidad estructural. Amplía las capacidades de XRD hacia aplicaciones de última generación, incluyendo:
- Análisis de películas delgadas epitaxiales y mapeo del espacio recíproco (RSM)
- Estudios de alta resolución de tensiones residuales y textura
- Transiciones de fase y refinamiento estructural
- Detección de picos ultra estrechos (FWHM ≤ 0.01°)
TELLUS HR está diseñado para cumplir con los requisitos más exigentes de la difracción de rayos X de alta resolución. Proporciona una precisión angular, sensibilidad y estabilidad del sistema superiores, lo que lo convierte en una opción ideal para laboratorios que trabajan con capas epitaxiales, recubrimientos funcionales y sistemas avanzados de materiales.
Su goniómetro Ө–Ө de radio variable (150–310 mm), la geometría de escaneo desacoplada y la óptica modular permiten a los investigadores explorar estructuras complejas con una resolución sin precedentes. Ya sea para analizar películas delgadas, tensiones residuales o evolución microestructural, TELLUS HR proporciona la profundidad analítica y la flexibilidad necesarias para experimentos de última generación.
Las aplicaciones incluyen epitaxia de semiconductores, recubrimientos funcionales, nanomateriales, productos farmacéuticos y estudios estructurales de precisión en entornos académicos e industriales de I+D.
En comparación con otros modelos de la serie TELLUS, HR ofrece el mayor nivel de configurabilidad y precisión de medición. Sus opciones avanzadas de detector, la fuente de rayos X de alta potencia (hasta 3 kW) y el soporte para modos de adquisición 1D/2D lo posicionan como la plataforma XRD definitiva dentro de la categoría de sobremesa.
El software intuitivo, la construcción robusta y la integración flexible con una amplia gama de accesorios hacen de TELLUS HR una inversión a largo plazo en precisión científica y fiabilidad.
Comparación con otros modelos TELLUS
| Característica / Modelo | TELLUS BASIC | TELLUS PRO | TELLUS INDUSTRY | TELLUS HR |
|---|---|---|---|---|
| Público objetivo | Educación, investigación, laboratorios de control de calidad rutinario | Investigación, industria de alta tecnología | Cemento, minería, metalurgia, control de procesos | I+D avanzada, semiconductores, epitaxia |
| Radio del goniómetro | 150 mm | Variable, 150–210 mm | 150 mm con montaje industrial fijo | Alta precisión 240 mm |
| Rango de escaneo (2Ө) | –6° a +154° | –12° a +160° | –6° a +154° | –20° a +170° |
| Análisis de películas delgadas | Limitado | GIXRD, XRR, análisis de textura | No requerido | HRXRD, RSM, XRR, análisis de películas epitaxiales |
| Tensiones residuales y textura | No disponible | Disponible | No requerido | Mapeo de tensiones residuales y textura de alta resolución |
| Plataforma de muestra | Fija con rotación opcional | Plataforma Z-Phi de dos ejes | Carrusel de carga automatizado o bandeja por lotes | Plataforma de goniómetro motorizada de cinco ejes |
| Accesorios | Portamuestras básicos para polvos | Espejo Goebel, colimador de placas paralelas, portamuestras capilar | Autosampler integrado, chasis protegido contra polvo, interfaz compatible con LIMS | Óptica de alta resolución, acondicionadores de haz, entorno avanzado para muestras |
| Generador de rayos X | 40 kV / 15 mA (600 W) | 40 kV / 30 mA (1200 W) | 40 kV / 15–30 mA (hasta 1200 W) | Sistema de alta estabilidad de 3 kW (opcional) |
Paquete de software
- TELLUSCon
- Software especializado
- Bases de datos COD, PDF-2
Aplicaciones clave:
- Determinación de estructura cristalina (incluida la refinación de parámetros de red)
- Análisis de fases multicomponente
- Análisis de textura
- Evaluación de tensiones residuales
- Reflectometría de rayos X (XRR)
- Difracción de rayos X a incidencia rasante (GIXRD)
- Dispersión de rayos X a pequeño ángulo (SAXS)
- XRD dependiente de la temperatura
Características clave
Goniómetro Ө–Ө de radio variable
Geometría de escaneo de alta precisión con rango de radio de 150–310 mm para mediciones de alta resolución tanto simétricas como asimétricas.
Detectores de conteo de fotones
Múltiples formatos de detector (0D, 1D, 2D) garantizan una adquisición de datos óptima para experimentos de alta sensibilidad y resolución angular.
Resolución angular ultra alta
Alcanza valores FWHM de hasta 0.01°, ideal para películas delgadas epitaxiales, evaluación de deformaciones y cristalografía avanzada.
Fuentes de rayos X de alta potencia
Admite generadores de hasta 60 kV / 50 mA (3000 W) para un haz intenso y una adquisición rápida de datos.
Óptica modular de alta resolución
Incluye espejos Goebel, colimadores de placas paralelas y rendijas para adaptarse a necesidades experimentales desde polvo hasta epitaxia.
Alta estabilidad mecánica y térmica
Garantiza reproducibilidad a largo plazo y consistencia de datos en investigaciones prolongadas y entornos de alta precisión.
Vídeo
Datos técnicos
Detalles
| Generador de rayos X | 40 kV / 30 mA (1200 W) o 60 kV / 50 mA (3000 W) |
| Sistema de refrigeración | Refrigeración por agua en circuito cerrado (interna o externa) |
| Goniómetro | Ө–Ө vertical, desacoplado, radio 150–310 mm |
| Rango de escaneo | –12° a +160° (2Ө) |
| Paso mínimo | 0.0003° (2Ө) |
| Precisión de posicionamiento | ±0.01° (2Ө) |
| Velocidad de escaneo | 0.01–600°/min |
| Tipos de detectores | Detectores Si de conteo de fotones 0D, 1D, 2D |
| FWHM mínimo del pico | ≤ 0.01° |
Periféricos
| Interfaz | USB / Ethernet |
| Ordenador | PC con sistema operativo Windows |
Dimensiones
| Dimensiones generales | |
|---|---|
| Ancho | 820 mm |
| Profundidad | 820 mm |
| Altura | 1000 mm |
| Peso (máximo) | 130 kg |
|---|
Detalles
| Generador de rayos X | 40 kV / 30 mA (1200 W) o 60 kV / 50 mA (3000 W) |
| Sistema de refrigeración | Refrigeración por agua en circuito cerrado (interna o externa) |
| Goniómetro | Ө–Ө vertical, desacoplado, radio 5.9–12.2 in |
| Rango de escaneo | –12° a +160° (2Ө) |
| Paso mínimo | 0.0003° (2Ө) |
| Precisión de posicionamiento | ±0.01° (2Ө) |
| Velocidad de escaneo | 0.01–600°/min |
| Tipos de detectores | Detectores Si de conteo de fotones 0D, 1D, 2D |
| FWHM mínimo del pico | ≤ 0.01° |
Periféricos
| Interfaz | USB / Ethernet |
| Ordenador | PC con sistema operativo Windows |
Dimensiones
| Dimensiones generales | |
|---|---|
| Ancho | 32.3 in |
| Profundidad | 32.3 in |
| Altura | 39.4 in |
| Peso (máximo) | 287 lbs |
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